近日，我院钟建强教授的研究成果“Two-dimensional ultrathin silica films”在Chemical Reviews（影响因子IF: 72.09）上发表。Chemical Reviews由美国化学会于1924年创刊并发行至今，是国际化学领域内最具权威性的学术期刊之一。它致力于发表最具影响力的综述文章，以综合性、权威性以及可读性强而著称。这是ylzzcom永利总站首次以第一单位在该期刊上发表学术论文。

    该项研究通过与德国弗利茨哈伯研究所Hans-Joachim Freund教授合作，系统总结了二维二氧化硅薄膜的发展历程、制备及原子电子结构表征、化学修饰及其在单原子吸附和催化等领域上的应用。

论文摘要

论文被选为封面

二维超薄二氧化硅薄膜（2D-silica），因其在电子学和催化领域里的重要性，逐渐成为科学家们持续关注的对象。到目前为止，已经能够合成几种原子结构明确的二维二氧化硅薄膜，其中的二氧化硅双层结构是具有薄膜化学计量为SiO2的最薄的二维材料。它由两层四面体 [SiO4]构建块组成，它们通过氧桥角连接，形成厚度约为0.5纳米的自饱和二氧化硅薄膜。对这些模型结构系统的成功制备和表征，特别是采用先进的表面科学技术和密度泛函理论计算，开启并推动了科学家们在原子尺度上探索新物理化学概念的可能性。这篇综述论文对二维超薄二氧化硅薄膜的最新发展、突破及其影响进行了深入的介绍，包括介绍它们的原子/电子结构、化学修饰、原子/分子吸附和催化反应特性。该论文有助于进一步激发并研究这类重要的新型二维材料体系。该研究工作得到了国家自然科学基金委、杭师大科研启动等科研项目的支持。

该论文得到美国耶鲁大学Eric Altman教授的高度评价，他撰写题为Two-dimensional Silica from Model System to Applications的研究评论亮点（Research Reviews Highlight），并随论文同期发表在Chemical Reviews上（研究评论链接https://doi.org/10.1021/acs.chemrev.2c00396）。

人物简介：

   钟建强，物理学博士，教授。入选浙江省海外高层次人才引进计划，杭州市全球引才521计划等。研究工作主要集中在有机分子电子学、二维硅材料、模型催化系统等领域。擅长利用表面科学技术手段（光电子能谱，隧道扫描电子显微镜，红外反射吸收光谱等）原位研究新型功能材料表界面的原子电子结构；同时也擅设计搭建多功能超高真空大型实验仪器设备。迄今，作为第一作者或通讯作者已在Chem. Rev., Nat. Comm., Adv. Funct. Mater., Angew. Chem. Int. Ed., Nano Lett., ACS Nano等国际著名学术期刊发表论文50多篇，美国专利1项。主持国家自然科学基金、高层次留学回国人员在杭创新创业项目等。